Кварцевый тонкопленочный контроллер

Кварцевый тонкопленочный контроллер

Монитор Eon-LT на базе ПК

Монитор толщины пленки с измерением температуры

EonLT — это монитор толщины пленки на базе ПК, который обеспечивает простой набор функций для пользователей, которым не требуется контроль процесса или температуры. EonLT предлагает инновационный мониторинг с технологией, оптимизированной для создания более компактного и недорогого устройства. Eon-LT — это монитор толщины пленки для измерения температуры, который превосходит обычные мониторы, которые слепы к температурным изменениям кристалла.

Комбинация измерения частоты и температуры обеспечивает беспрецедентную точность контроля расхода и толщины в режиме реального времени.

QUARTZ THIN FILM MONITOR

 

FeaturesApplications
Temperature measuring quartz oscillatorAtomic Layer Deposition (ALD)
Communicates with latest, intuitive Eon™ softwareChemical Vapor Deposition (CVD)
Real time graphing of temperature and frequency alongside corresponding rate and thickness valuesMolecular Beam Epitaxy (MBE)
Shutter on/off support (relays)CIGS (thin film solar)
All connecting cables, software, and instruction manual includedOLED (display & lighting)
Features built in temperature monitoringMulti-Layer Optical Thin Film Deposition

 

Монитор Eon-ID со встроенным дисплеем

Комплексный, универсальный монитор толщины пленки

Eon-ID — это универсальное и доступное устройство для мониторинга осаждения тонких пленок. Новый монитор толщины пленки Eon-ID объединяет систему измерения напыления со сверхвысоким разрешением в компактный корпус для монтажа в стойку. Монитор толщины пленки Eon-ID — единственный в своем роде продукт, который работает сразу после распаковки. Eon-ID предлагает комплексный дизайн, который легко адаптируется к различным условиям — от промышленных до лабораторных, от чистых помещений до исследовательских сред.

Благодаря возможности мониторинга температуры, сенсорному дисплею и прочной промышленной конструкции Eon-ID представляет собой комплексное решение.

 

QUARTZ THIN FILM MONITOR1

 

 

FeaturesApplications
Integrated touchscreen display for process programming and monitoringAtomic Layer Deposition (ALD)
Connectivity includes RS-232Chemical Vapor Deposition (CVD)
Rackmount capable (1 or 2 Eon-IDs per slot)Molecular Beam Epitaxy (MBE)
Dual sensor for expanded capabilityCIGS (thin film solar)
Advanced technology that increases reliability and durability in industrial environmentsOLED (display & lighting)
Features built in temperature monitoringMulti-Layer Optical Thin Film Deposition
Roll-to-roll coatingRoll-to-roll coating

 

Мы также предлагаем аксессуары для тонкопленочных мониторов.